SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀
小徑寬帶無(wú)光程差光束平行度檢驗(yàn)儀　SPUVNIR-1.5-CS
可觀測(cè)檢驗(yàn)干涉長(zhǎng)度很小的，寬帶(355-1100nm)小直徑光束的光束的平行度。

產(chǎn)品型號(hào)：SPUVNIR-1.5-CS
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2024-11-29
訪問(wèn) 量：514

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產(chǎn)品詳情

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀

小徑寬帶無(wú)光程差光束平行度檢驗(yàn)儀　SPUVNIR-1.5-CS

可觀測(cè)檢驗(yàn)干涉長(zhǎng)度很小的，寬帶(355-1100nm)小直徑光束的光束的平行度。

測(cè)定原理

檢測(cè)畫面

將其直接插入需評(píng)估的光束中，便可觀測(cè)光束的平行程度。它能大幅減輕光軸調(diào)整的負(fù)擔(dān)，節(jié)約調(diào)整時(shí)間，更容易得到更高質(zhì)量的光束。

可用于舊型同類產(chǎn)品無(wú)法觀測(cè)的可干涉性很差的（干涉長(zhǎng)度：幾十μm）。

適用的光束直徑范圍寬，光束直徑可小至Φ1.5mm。

對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)范圍寬（355nm～1100nm），從紫外到近紅外都可用。

產(chǎn)品配套齊全（含攝像頭，USB電纜，顯示軟件），到貨后可直接使用。 ※計(jì)算機(jī)需要用戶自己準(zhǔn)備

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)	SPUVNIR-1.5-CS
對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)〔nm〕	355～1100
入射光束直徑〔mm〕	Φ1.5～　※孔徑Φ10
攝像頭接口	USB3.0
內(nèi)部光學(xué)件材料	BK7
玻璃板厚〔mm〕	0.5
框體材料	鋁合金（黑色氧化）
庫(kù)存	需要確認(rèn)
CAD	DXF　STP　IGS　SAT
報(bào)價(jià)訂貨表	CART カート

軟件技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)	OSCAMS
測(cè)量以及顯示項(xiàng)目	?傾斜角(deg) 〔顯示分辨率0.1deg〕 ?光束曲率半徑(m) 〔顯示分辨率0.1m〕 ?光束發(fā)散角(半角)(mrad)〔顯示分辨率0.01mrad〕 ? 屈光度(λ)〔表示分解能0.1〕
功能	?合格/不合格判斷　 (判斷指標(biāo)可選，上限/下限可自由設(shè)定) ? 自動(dòng)選取數(shù)據(jù)處理圓形區(qū)域(也可手動(dòng)) ? 記錄數(shù)據(jù)(可加注) ? 保存圖像 ? 編輯參數(shù)文件 ? 更改攝像頭參數(shù) ? 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)字列表 ? 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)字圖標(biāo) ? 統(tǒng)計(jì)平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，合格率等

對(duì)應(yīng)OS：Windows®7(32/64bit) / 8.1(64bit) / 10(64bit)

信息

自動(dòng)計(jì)測(cè)軟件(OSCAMS)可在公司免費(fèi)下載使用。

沒(méi)附帶立柱。歡迎選購(gòu)本公司標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的M6螺紋的立柱。
螺紋孔規(guī)格：M6P1深5mm。

備有濾光片插槽，用戶可根據(jù)使用需要插入中性濾光片等，衰減光強(qiáng)。但，濾光片不是附屬品。

※1 立柱不是附屬品。歡迎選購(gòu)RO系列M6P1螺紋規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)立柱。
※2 用于確認(rèn)測(cè)量頭和光束的相對(duì)位置。建議將通光孔 (Φ 1 mm) 的透過(guò)光斑，調(diào)整到圖像的中心位置附近。

外形圖

注意事項(xiàng)

將測(cè)量頭插入光路的過(guò)程中，會(huì)發(fā)生激光束的散射或反射。在使用時(shí)，強(qiáng)烈建議做好激光防護(hù)措施,比如，佩戴好合適的眼鏡等。歡迎選用西格瑪光機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)激光防護(hù)產(chǎn)品。

測(cè)量頭插入光路后，并沒(méi)有*全遮擋原光束。所以，千萬(wàn)不要在光軸附近直接目視光源。

激光損傷閾值：10 W/cm2 (1064nm)。假如光束能量密度過(guò)高時(shí)，建議使用光束取樣板(BS4等)，分束或衰減后使用。

測(cè)量頭的光軸和光束的光軸不一致時(shí)，干涉條紋可能會(huì)不十分清晰。但是，只要調(diào)整一下測(cè)量頭的角度（光束入射角度），就能得到清晰的干涉條紋的。

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